京都工芸繊維大学を検索します。
CiNii Researchを検索します。
CiNii Booksを検索します。
NDLサーチを検索します。
IRDBを検索します。
検索キーワード:(件名: Surface roughness Measurement Congresses)
該当件数:1件
Scattering and surface roughness II : 21-23 July 1998, San Diego, California / Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
Bellingham, Wash. : SPIE , c1998. - (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 3426)
図書