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検索キーワード:(件名: Microscopy instrumentation congresses)
該当件数:1件
X-ray microscopy III : proceedings of the third international conference, London, September 3-7, 1990 / A.G. Michette, G.R. Morrison, C.J. Buckley (eds.)
: Berlin,: New York. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1992. - (Springer series in optical sciences ; v. 67)
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