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検索キーワード:(件名: Electron microscopy Technique Congresses)
該当件数:2件
Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè
New York : Plenum Press , c1988. - (NATO ASI series ; ser. B, Physics ; v. 191)
図書
Microbial ultrastructure : the use of the electron microscope / edited by R. Fuller and D.W. Lovelock
London ; New York : Academic Press , 1976. - (Technical series (Society for Applied Bacteriology) ; no. 10)