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検索キーワード:(標準分類: TK7871.99.M44)
該当件数:4件
Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits / edited by T.P. Ma and Paul V. Dressendorfer
New York : Wiley , c1989
図書
Advanced CMOS process technology / J.M. Pimbley ... [et al.]
San Diego, Calif. ; Tokyo : Academic Press , c1989. - (VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 19)
最新VLSIの基礎 / Yuan Taur (陶元), Tak H. Ning (甯徳雄)著 ; 竹内潔 [ほか] 訳
東京 : 丸善 , 2002.9
最新VLSIの基礎 / Yuan Taur (陶元), Tak H. Ning (甯徳雄)著 ; 芝原健太郎, 宮本恭幸, 内田建監訳
第2版. - 東京 : 丸善出版 , 2013.1