京都工芸繊維大学を検索します。
CiNii Researchを検索します。
CiNii Booksを検索します。
NDLサーチを検索します。
IRDBを検索します。
検索キーワード:(標準分類: 502/.8/2)
該当件数:4件
Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
U.S.. - Berlin ; New York : Springer-Verlag , 1984. - (Springer series in optical sciences ; v. 36)
図書
Scanned image microscopy / edited by Eric A. Ash
London ; New York : Academic Press , 1980. - (The Rank Prize Funds opto-electronics biennial symposia ; 1980)
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September, 14-16, 1983 / editors, G. Schmahl and D. Rudolph
: U.S.,: Berlin. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , 1984. - (Springer series in optical sciences ; v. 43)
X-ray microscopy III : proceedings of the third international conference, London, September 3-7, 1990 / A.G. Michette, G.R. Morrison, C.J. Buckley (eds.)
: Berlin,: New York. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1992. - (Springer series in optical sciences ; v. 67)