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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #IFIP TC-5 Working Conference on Artificial Intelligence and Pattern Recognition in Computer Aided Design)
該当件数:1件
Artificial intelligence and pattern recognition in computer aided design : proceedings of the IFIP Working Conference, organized by Working Group 5.2, Computer-aided Design, Grenoble, France, March 17-19, 1978 / edited by Jean-Claude Latombe
Amsterdam ; New York : North-Holland Pub. Co. , 1978
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