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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography)
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Applications of electron microfractography to materials research : a symposium presented at the seventy-third annual meeting, American Society for Testing and Materials, Toronto, Ont., Canada, 21-26 June 1970
Philadelphia : American Society for Testing and Materials , c1971. - (ASTM special technical publication ; 493)
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