Scanned image microscopy / edited by Eric A. Ash
(The Rank Prize Funds opto-electronics biennial symposia ; 1980)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | London ; New York : Academic Press |
| 出版年 | 1980 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xv, 461 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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549.513||S5 | 9852112333 |
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0120651807 |
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| 別書名 | その他のタイトル:International symposium in opto-electronics(4th, 1980) |
|---|---|
| 一般注記 | Based on a conference held at the Royal Society of London in Sept. of 1980, under the auspices of the Rank Prize Funds Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | *Ash, E. A. (Eric A.), 1928- Rank Prize Funds |
| 分 類 | LCC:QH212.S3 DC19:502/.8/2 |
| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscope -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00021569 |
| ISBN | 0120651807 |
| NCID | BA00593711 |
