Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer |
出版年 | 2001 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | 748 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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研究室 |
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535.8||F86 | 9200103794 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | *Fultz, B. Howe, James M., 1955- |
分 類 | LCC:TA417.23 DC21:620.1/1299 |
件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Transmission electron microscopy LCSH:X-ray diffractometer |
書誌ID | BB00002725 |
ISBN | 3540678417 |
NCID | BA50935635 |