Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard C. Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York ; Tokyo : Academic Press |
| 出版年 | 1982 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xix, 300 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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428.4||F4 | 9852272862 |
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| 研究室 |
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501.5||F18 | 9950003874 |
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| 一般注記 | Bibliography: p. 235-295 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- Picraux, S. T., 1943- |
| 分 類 | LCC:QC176.8.C45 DC19:620.1/1299 |
| 件 名 | LCSH:Channeling (Physics) LCSH:Solids -- Surfaces 全ての件名で検索 LCSH:Crystals -- Defects 全ての件名で検索 LCSH:Ion beams LCSH:Crystallography |
| 書誌ID | TY00030825 |
| ISBN | 0122526805 |
| NCID | BA01369360 |
