Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Englewood Cliffs, N.J. : Prentice Hall |
| 出版年 | c1986 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
|
428.7||F18 | 9930068483 |
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- |
| 分 類 | LCC:QD506 DC19:530.4/1 |
| 件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
全ての件名で検索
LCSH:Thin films -- Analysis 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00022974 |
| NCID | BA21751606 |
