Physical measurement and analysis of thin films / edited by E. M. Murt and W. G. Guldner
(Progress in analytical chemistry ; v. 2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | 1969 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 194 p. : illus ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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433.08||P||2 | 9851076634 |
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| 一般注記 | Includes bibliographies |
|---|---|
| 著者標目 | *Eastern Analytical Symposium Murt, E. M. ed Guldner, W. G. |
| 分 類 | LCC:QC176 DC:530.4/1 |
| 件 名 | LCSH:Thin films -- Addresses, essays, lectures 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00015409 |
| NCID | BA11236002 |
