Recent development of electron microscopy : proceedings of the Second Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Beijing from October 17 to October 19 in 1983 / organized by Chinese Society of Electron Microscopy ; edited by H. Hashimoto ... [et al.]
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Tokyo, Japan : International Dept., Business Center for Academic Societies Japan |
| 出版年 | c1985 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 279 p. : ill. ; 23 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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549.513||C||1-2 | 9852451584 |
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| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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549.513||C||1-2(B) | 9880020331 |
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| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar (2nd : 1983 : Peking, China) 橋本, 初次郎(1921-) <ハシモト, ハツジロウ> Chung-kuo tien tzu hsien wei ching hsüeh hui |
| 分 類 | LCC:QH212.E4 DC19:502/.8/25 |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00003472 |
| ISBN | 4930813115 |
| NCID | BA04238405 |
