Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 2nd ed |
| 出版者 | Chichester : Wiley |
| 出版年 | c2008 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiv, 536 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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501.4||B71 | 9300377297 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Brandon, D. G. Kaplan, Wayne D. |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC21:620.1/1299 |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Microstructure |
| 書誌ID | BB00094259 |
| ISBN | 9780470027844 |
| NCID | BA85576969 |
