Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons |
| 出版年 | c2012 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxii, 464 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
|
549.97||H45 | 9300072744 |
|
9780470638828 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Haugstad, Greg, 1963- |
| 分 類 | LCC:QH212.A78 DC23:620/.5 |
| 件 名 | LCSH:Atomic force microscopy |
| 書誌ID | BB00076083 |
| ISBN | 9780470638828 |
| NCID | BB10578482 |
