Surface analysis by electron spectroscopy : measurement and interpretation / Graham C. Smith
(Updates in applied physics and electrical technology)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1994 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 156 p. : ill. ; 26 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
|
425.5||Sm5 | 9300033096 |
|
0306448068 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 101-112) and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Smith, G. C. (Graham C.) |
| 分 類 | LCC:TA418.7 DC20:537.5/352 |
| 件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
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LCSH:Surface chemistry LCSH:Auger effect LCSH:X-ray spectroscopy |
| 書誌ID | BB00074693 |
| ISBN | 0306448068 |
| NCID | BA2395369X |
