Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits / edited by T.P. Ma and Paul V. Dressendorfer
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1989 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xviii, 587 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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| 研究室 |
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549.8||Ma11 | 9090900113 |
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| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Ma, T. P. Dressendorfer, Paul V. |
| 分 類 | LCC:TK7871.99.M44 DC19:621.3815/2 |
| 件 名 | LCSH:Metal oxide semiconductors -- Effect of radiation on 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | BB00049265 |
| ISBN | 047184893X |
| NCID | BA07128367 |
