Modern developments in electron microscopy / edited by Benjamin M. Siegel
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York ; London : Academic Press |
| 出版年 | 1964 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiii, 432 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 積層2層 (高等工芸) |
|
460.72||S2 | 9853586146 |
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Siegel, Benjamin Morton |
| 分 類 | DC18:535.3325 NLM:QH205 |
| 件 名 | MESH:Microscopy, Electron |
| 書誌ID | BB00005475 |
| NCID | BA1008159X |
