Electron beam x-ray microanalysis / Kurt F.J. Heinrich
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Van Nostrand Reinhold Co. |
| 出版年 | c1981 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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433.58||H | 9852130676 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Heinrich, Kurt F. J. |
| 分 類 | LCC:QD98.E4 DC:543/.0812 |
| 件 名 | LCSH:Electron probe microanalysis LCSH:X-ray spectroscopy |
| 書誌ID | BB00005138 |
| ISBN | 0442232861 |
| NCID | BA29158317 |
