EXAFS spectroscopy, techniques and applications / edited by B.K. Teo and D.C. Joy
| データ種別 | 図書 |
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| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1981 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | viii, 275 p. : ill. ; 26 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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433.58||E | 9852130448 |
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| 一般注記 | Based on proceedings of a symposium held at the meeting of the Materials Research Society, Nov. 26-30, 1979, in Boston Includes bibliographical references and index |
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| 著者標目 | Teo, B. K. Joy, David C., 1943- Materials Research Society |
| 分 類 | LCC:QC482.S6 DC19:543/.08586 |
| 件 名 | LCSH:X-ray spectroscopy LCSH:Absorption spectra LCSH:Extended x-ray absorption fine structure |
| 書誌ID | BB00005137 |
| ISBN | 0306406543 |
| NCID | BA01229022 |
