Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer |
| 出版年 | 2001 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 748 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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| 研究室 |
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535.8||F86 | 9200103794 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Fultz, B. Howe, James M., 1955- |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC21:620.1/1299 |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Transmission electron microscopy LCSH:X-ray diffractometer |
| 書誌ID | BB00002725 |
| ISBN | 3540678417 |
| NCID | BA50935635 |
