Applications of electron microfractography to materials research : a symposium presented at the seventy-third annual meeting, American Society for Testing and Materials, Toronto, Ont., Canada, 21-26 June 1970
(ASTM special technical publication ; 493)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Philadelphia : American Society for Testing and Materials |
| 出版年 | c1971 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 96 p. : ill. ; 23 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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563.6||A2 | 9851313733 |
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| 一般注記 | Sponsored by ASTM Subcommittee II on Fractography and Associated Microstructures of ASTM Committee E-24 on Fracture Testing of Metals Includes bibliographical references |
|---|---|
| 著者標目 | *Symposium on Applications of Electron Microfractography to Materials Research (1970 : Toronto) American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography |
| 分 類 | LCC:TA460 DC:620.1/6/6028 |
| 件 名 | LCSH:Fractography -- Congresses
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| 書誌ID | BB00012328 |
| NCID | BA02962433 |
