Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
(Springer series in optical sciences ; v. 45)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag |
| 出版年 | c1985 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xviii, 457 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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425.08||S||45(B) | 9900023747 |
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| 一般注記 | Bibliography: p. [405]-446 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | *Reimer, Ludwig, 1928- |
| 分 類 | NDLC:ND448 LCC:QH212.S3 DC19:535/.3325 |
| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscope |
| 書誌ID | TY00008507 |
| ISBN | 0387135308 |
| NCID | BA00063343 |
