Identification of defects in semiconductors / volume editor Michael Stavola
(Semiconductors and semimetals ; vol. 51A-B)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | San Diego : Academic Press |
| 出版年 | c1998- |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 2 v. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 積層3層 | [A] | 428.85||S2||51-1 | 9200129671 |
|
|
|
||
| 積層3層 | [B] | 428.85||S2||51-2 | 9200129682 |
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Stavola, Michael |
| 書誌ID | TY20009587 |
| ISBN | 0127521593 |
| NCID | BA36183890 |
