Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè
(NATO ASI series ; ser. B, Physics ; v. 191)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1988 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | viii, 319 p. : ill. (some col.) ; 26 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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428.4||N2 | 9890013231 |
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030643086X |
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| 一般注記 | "Proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques, held April 4-15, 1987, in Erice, Sicily, Italy"--CIP t.p. verso Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques (1987 : Erice, Italy) Howie, A. Valdrè, U. (Ugo) |
| 分 類 | LCC:QC173.4.S94 DC19:530.4/1 |
| 件 名 | LCSH:Surfaces (Physics) -- Technique -- Congresses
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LCSH:Electron microscopy -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Electron microscope, Transmission -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00006588 |
| ISBN | 030643086X |
| NCID | BA06646162 |
