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Examining the submicron world / edited by Ralph Feder, J. Wm. McGowan and Douglas M. Shinozaki
(NATO ASI series ; ser. B . Physics ; v. 137)

データ種別 図書
出版者 New York : Plenum Press
出版年 c1986
本文言語 英語
大きさ xii, 372 p. : ill. ; 26 cm

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2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術)
549.513||E3 9860059778
0306422786

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一般注記 "Proceedings of a NATO Advanced Study Institute on Improved Methods for Examining the Submicron World, held July 28-August 11, 1984, in Nova Scotia"--T.p. verso
Includes bibliographies and index
著者標目  *NATO Advanced Study Institute on Improved Methods for Examining the Submicron World (1984 : Nova Scotia)
 Feder, Ralph
 McGowan, J. William (James William), 1931-
 Shinozaki, Douglas M.
分 類 LCC:QH212.E4
DC19:502/.8/25
件 名 LCSH:Electron microscopy -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:X-ray microscope -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Ultrastructure (Biology) -- Congresses  全ての件名で検索
書誌ID TY00000782
ISBN 0306422786
NCID BA00602040