Point defects in semiconductors / M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
(Springer series in solid-state sciences ; 22, 35)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; New York : Springer-Verlag |
| 出版年 | 1981-1983 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 2 v. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 積層3層 | v. 1 : gw | 428.4||S11||22 | 9200112716 |
|
3540105182 |
|
||
| 積層3層 | v. 2 : gw | 428.4||S11||35 | 9200112738 |
|
3540115153 |
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | v. 1. Theoretical aspects v. 2. Experimental aspects Vol. 2 by J. Bourgoin, M. Lannoo, with a foreword by G.D. Watkins Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Lannoo, M. (Michel), 1942- Bourgoin, J. (Jacques), 1938- |
| 分 類 | LCC:QC611.6.D4 DC19:537.6/22 NDC8:428.4 |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects
全ての件名で検索
LCSH:Point defects |
| 書誌ID | BB00006002 |
| ISBN | 0387105182 |
| NCID | BA01492094 |
