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Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart

データ種別 図書
出版者 Chichester, England ; New York : Wiley
出版年 c1991
本文言語 英語
大きさ xxx, 545 p. : ill. ; 26 cm

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研究室
501.4||E7||1e 9920047214


2Fシラバス掲載図書 : pbk 501.4||E7||1e 9200114412

シラバス2023年度

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別書名 原タイトル:Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
一般注記 Translation of: Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, neutrons et électrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
Includes bibliographical references and index
著者標目  *Eberhart, J. -P. (Jean-Pierre)
分 類 LCC:TA417.23
DC20:620.1/1299
件 名 LCSH:Materials -- Microscopy  全ての件名で検索
LCSH:Microstructure
書誌ID TY00015279
ISBN 0471929778
NCID BA12872654