IEEE transactions on reliability / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| データ種別 | 雑誌 |
|---|---|
| 出版者 | New York |
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| 別書名 | 略タイトル:IEEE trans. reliab キータイトル:IEEE transactions on reliability |
|---|---|
| 件 名 | LCSH:Electronic industries -- Quality control -- Periodicals 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | ZY00001364 |
| ISSN | 00189529 |
| NCID | AA00668109 |
