Identification of defects in semiconductors / volume editor Michael Stavola
(Semiconductors and semimetals ; vol. 51A-B)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | San Diego : Academic Press |
出版年 | c1998- |
本文言語 | 英語 |
大きさ | 2 v. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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積層3層 | [A] | 428.85||S2||51-1 | 9200129671 |
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積層3層 | [B] | 428.85||S2||51-2 | 9200129682 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | Stavola, Michael |
書誌ID | TY20009587 |
ISBN | 0127521593 |
NCID | BA36183890 |