Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE) / edited by Sven A.E. Johansson, John L. Campbell, Klas G. Malmqvist
(Chemical analysis ; v. 133)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1995 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiii, 451 p. : ill., maps ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 研究室 |
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433.08||C2||133 | 9960049916 |
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| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Johansson, Sven A. E., 1923- Campbell, John L. Malmqvist, Klas G. |
| 分 類 | LCC:QD96.X2 DC20:545/.836 |
| 件 名 | LCSH:Proton-induced X-ray emission |
| 書誌ID | TY20001848 |
| NCID | BA26833515 |
