Progress in analytical chemistry
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | New York : Plenum Press |
本文言語 | und |
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1 | v. 1 X-ray and electron methods of analysis / Edited by H. Van Olphen and William Parrish New York : Plenum Press , 1968 |
2 | v. 2 Physical measurement and analysis of thin films / edited by E. M. Murt and W. G. Guldner New York : Plenum Press , 1969 |
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書誌ID | TY10008713 |
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NCID | BA11236090 |