PIXE : a novel technique for elemental analysis / Sven A.E. Johansson and John L. Campbell
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Chichester ; New York : Wiley |
| 出版年 | c1988 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 347 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 研究室 |
|
427.55||J62 | 9940005990 |
|
|
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Johansson, Sven A. E., 1923- Campbell, John L. |
| 分 類 | LCC:QD96.X2 DC19:543/.08586 |
| 件 名 | LCSH:Proton-induced X-ray emission MESH:Protons MESH:Spectrometry, X-Ray Emission -- methods 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | TY00029771 |
| NCID | BA05151335 |
