Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
(Springer series in optical sciences ; v. 45)
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1985 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xviii, 457 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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425.08||S||45(B) | 9900023747 |
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一般注記 | Bibliography: p. [405]-446 Includes index |
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著者標目 | *Reimer, Ludwig, 1928- |
分 類 | NDLC:ND448 LCC:QH212.S3 DC19:535/.3325 |
件 名 | LCSH:Scanning electron microscope |
書誌ID | TY00008507 |
ISBN | 0387135308 |
NCID | BA00063343 |