Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
(Optical engineering ; v. 1)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Marcel Dekker |
| 出版年 | c1982 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiv, 793 p. : ill. ; 27 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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549.513||M2 | 9870074483 |
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0824715535 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Murr, Lawrence Eugene |
| 分 類 | LCC:QH212.E4 DC19:502/.8/25 |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy LCSH:Field ion microscope LCSH:Microprobe analysis |
| 書誌ID | TY00003762 |
| ISBN | 0824715535 |
| NCID | BA03766394 |
