Surface analysis by electron spectroscopy : measurement and interpretation / Graham C. Smith
(Updates in applied physics and electrical technology)
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | New York : Plenum Press , c1994 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xi, 156 p. : ill. ; 26 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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425.5||Sm5 | 9300033096 |
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0306448068 |
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一般注記 | Includes bibliographical references (p. 101-112) and index |
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著者標目 | *Smith, G. C. (Graham C.) |
分 類 | LCC:TA418.7 DC20:537.5/352 |
件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
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LCSH:Surface chemistry LCSH:Auger effect LCSH:X-ray spectroscopy |
書誌ID | BB00074693 |
ISBN | 0306448068 |
NCID | BA2395369X |