シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル モンダイシュウ
新TOEICテスト一発で正解がわかる問題集 / キム・デギュン著
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : 旺文社 |
出版年 | 2008.6 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 冊 ; 21cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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3F TOEIC・TOEFL関連図書 | 文法・語彙・リーディング | 英||TOE||2008 | 9090300105 |
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9784010940891 |
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3F TOEIC・TOEFL関連図書 | リスニング | 英||TOE||2008 | 9090301367 |
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9784010940884 |
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