Multiple-beam interference microscopy of metals / by S. Tolansky
データ種別 | 図書 |
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出版者 | London ; New York : Academic Press |
出版年 | 1970 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | ix, 147 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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563.6||T2 | 9851180950 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
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著者標目 | *Tolansky, S. (Samuel), 1907- |
分 類 | LCC:TN690 DC:669.9/5/0282 |
件 名 | LCSH:Interference microscope LCSH:Metallography |
書誌ID | BB00012345 |
ISBN | 0126926506 |
NCID | BA18220656 |