Multiple-beam interference microscopy of metals / by S. Tolansky
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | London ; New York : Academic Press |
| 出版年 | 1970 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | ix, 147 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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563.6||T2 | 9851180950 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Tolansky, S. (Samuel), 1907- |
| 分 類 | LCC:TN690 DC:669.9/5/0282 |
| 件 名 | LCSH:Interference microscope LCSH:Metallography |
| 書誌ID | BB00012345 |
| ISBN | 0126926506 |
| NCID | BA18220656 |
