Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
(Defects in crystalline solids ; v. 7)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Amsterdam ; London : North-Holland |
出版者 | New York : American Elsevier |
出版年 | 1973 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | x, 400 p. with illus ; 23 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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研究室 |
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549.92||C19 | 9851429345 |
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一般注記 | Bibliography: p. [387]-389 |
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著者標目 | Head, A. K. |
分 類 | LCC:QD921 DC:548/.842/02854 |
件 名 | LCSH:Metals -- Defects -- Data processing
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LCSH:Electron microscopy -- Data processing 全ての件名で検索 |
書誌ID | BB00011877 |
ISBN | 0720417570 |
NCID | BA07250178 |