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Proceedings : 31st annual meeting of the Electron Microscopy Society of America, New Orleans, Louisiana, August 14-17, 1973 / edited by Claude J. Arceneaux

データ種別 図書
出版者 Baton Rouge : Claitor's
出版年 1973
本文言語 英語
大きさ 709 p. : ill. ; 27 cm

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積層4層
549.513||P4||31 9851454005


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別書名 背表紙タイトル:Electron Microscopy
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目  Annual Meeting Electron Microscopy Society of America
Arceneaux, Claude J.
 Electron Microscopy Society of America
書誌ID BB00011773
NCID BA29032308