Introduction to analytical electron microscopy / edited by John J. Hren, Joseph I. Goldstein, and David C. Joy
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 出版年 | c1979 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xv, 601 p. : ill. ; 27 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 指定図書グループ |
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| 2F図書 (自然科学・技術・産業・芸術) |
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549.513||I2 | 9852020913 |
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| 一般注記 | "Proceedings of a workshop on analytical electron microscopy, held in San Antonio, Texas, August 13-14, 1979, as part of the joint meeting of the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society." Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | Hren, John J. Goldstein, Joseph, 1939- Joy, David C., 1943- Electron Microscopy Society of America Microbeam Analysis Society. Conference |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC:502/.8 |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy |
| 書誌ID | BB00011763 |
| ISBN | 0306402807 |
| NCID | BA07286903 |
