コマ, アツシ
小間, 篤
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | 東京大学工学部物理工学科修士課程 「シリコの物性と評価法」の共著者 東京大学理学部化学科教授 |
| から見よ参照 | Koma, Atsushi |
| コード類 | 典拠ID=AU00003095 NCID=DA01319234 |
| 1 | 表面物性工学ハンドブック / 小間篤 [ほか] 編 第2版. - 東京 : 丸善 , 2007.1 |
| 2 | 表面物性測定 / 小間篤編 東京 : 丸善 , 2001.9 |
| 3 | 試料作製技術 / 小間篤編 東京 : 丸善 , 2000.7 |
| 4 | 試料作製技術 / 小間篤編 東京 : 丸善 , 1999.10 |
| 5 | 表面の化学 / 岩澤康裕, 小間篤編 東京 : 丸善 , 1994.12 |
| 6 | 表面科学入門 / 小間篤 [ほか] 編著 東京 : 丸善 , 1994.11 |
| 7 | シリコンの物性と評価法 / 小間篤[ほか]共著 東京 : 丸善 , 1987.7 |
| 8 | 表面物性工学ハンドブック / 小間篤[ほか]編 東京 : 丸善 , 1987.7 |
| 9 | 表面科学シリーズ / 小間篤 [ほか] 編集 東京 : 丸善 |