スゲ, ヨシオ
菅, 義夫(1902-)
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | 「熱電半導体」 (槙書店, 1966) JP66005371 SRC:電子冷凍の理論と応用 / 菅義夫[著](仁科記念財団, [196?]) EDSRC:高分子材料 / 菅義夫 [ほか著](日刊工業新聞社, 1956) |
| から見よ参照 | 菅, 義夫<スガ, ヨシオ> |
| コード類 | 典拠ID=AU20081681 NCID=DA09783315 |
| 1 | 光弾性実験法 / 辻二郎, 河田幸三 [著] . 非破壊検査法 / 石井勇五郎 [著] . 金属材料概説 / 三島良績 [著] . 高分子材料 / 菅義夫, 和田英一, 二宮友二 [著] . 電気・磁気材料 / 比留間光一, 和久茂 [著] . 耐熱材料 / 河嶋千尋 [著] [合綴版]. - 東京 : 日刊工業新聞社 , 1956.6-1957.5 |
| 2 | 力学量測定法 / 蓮沼宏[著] . 粘度測定 / 菅義夫[著] . 熱学量測定法 / 大石二郎,岡山誠司,粟野満[著] [合綴版]. - 東京 : 日刊工業新聞社 , 1956-1957 |