Schulz, M. (Max)
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | INFOS 81 (1981 : Erlangen, Germany). Insulating films on semiconductors, 1981: t.p. (M. Schulz) t.p. verso (Prof. Dr. Max J. Schulz, Institut für Angewandte Physik, Universität Erlangen-Nürnberg, Erlangen, Germany) His Landolt-Börnstein Zahlenwerte und Funktionen aus Naturwissenschaften und Technik. Neue Serie Semiconductor Silicon, c1989: t.p. (M.J. Schulz) |
| から見よ参照 | Schulz, Max J. Schulz, M. J. |
| コード類 | 典拠ID=AU20065463 NCID=DA00520714 |
| 1 | Störstellen und Defekte in Elementen der IV. Gruppe und III-V-Verbindungen / C.A.J. Ammerlaan ... [et al.] ; Herausgegeben von M. Schulz : gw,: us. - Berlin ; Tokyo : Springer , c1989 |
| 2 | Intrinsische Eigenschaften von Elementen der IV. Gruppe und von III-V-, II-VI- und I-VII- Verbindungen / O. Madelung, W. von der Osten, U. Rössler ; Herausgegeben von O. Madelung : gw,: us. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1987 |