Greivenkamp, John E.
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| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | Surface characterization and testing II, 1989: t.p. (John E. Greivenkamp) p. v (Eastman Kodak Company) SRC:Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California / John E. Greivenkamp, Matt Young, chairs/editors(SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1989) |
| コード類 | 典拠ID=AU20039647 NCID=DA08873820 |
| 1 | フィールドガイド幾何光学 / John E.Greivenkamp著 ; オプトロニクス社編集部,張吉夫訳 東京 : オプトロニクス社 , 2007.7 |
| 2 | SPIEフィールドガイド / John E.Greivenkamp, シリーズエディター 東京 : オプトロニクス社 |