Mayer, James W., 1930-
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| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | Feldman, L.C. Fundamentals of surface and thin film analysis, c1986 |
| Dates of Birth and Death | 1930 |
| から見よ参照 | メイヤー, J. W. |
| コード類 | 典拠ID=AU20005854 NCID=DA00601973 |
| 1 | 表面と薄膜分析技術の基礎 / L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳 東京 : 海文堂 , 1989.6 |
| 2 | Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard C. Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux New York ; Tokyo : Academic Press , 1982 |
| 3 | Backscattering spectrometry / Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet New York : Academic Press , c1978 |